Herausforderung EMV in der Leistungselektronik

Michael Fuchs; Bernhard Auinger; Lukas Pichler; Markus Herdin; Bernd Deutschmann

Herausforderung EMV in der Leistungselektronik

Michael Fuchs
, Bernhard Auinger
, Lukas Pichler
, Markus Herdin
, Bernd Deutschmann

Institute of Electronics (4390)

Research output: Contribution to journal › Article

Abstract

Der Trend zu immer schneller schaltender Leistungselektronik führt dazu, dass EMV zu einem entscheidenden Thema wird. Mit Hilfe moderner Messtechnik lässt sich die Gate-Ansteuerung entwicklungsbegleitend optimieren und dadurch die Störabstrahlung verringern.

Original language	German
Pages (from-to)	12-17
Journal	Elektronik
Issue number	Sonderh. Power
Publication status	Published - May 2018

Fields of Expertise

Information, Communication & Computing

Access to Document

https://www.elektroniknet.de/elektronik/messen-testen/herausforderung-emv-in-der-leistungselektronik-153599.html

Cite this

@article{406f0f7f3c3b4bb584e7927bca462a05,

title = "Herausforderung EMV in der Leistungselektronik",

abstract = "Der Trend zu immer schneller schaltender Leistungselektronik f{\"u}hrt dazu, dass EMV zu einem entscheidenden Thema wird. Mit Hilfe moderner Messtechnik l{\"a}sst sich die Gate-Ansteuerung entwicklungsbegleitend optimieren und dadurch die St{\"o}rabstrahlung verringern.",

author = "Michael Fuchs and Bernhard Auinger and Lukas Pichler and Markus Herdin and Bernd Deutschmann",

year = "2018",

month = may,

language = "deutsch",

pages = "12--17",

journal = "Elektronik",

issn = "0013-5658",

publisher = "WEKA-Fachmedien GmBH",

number = "Sonderh. Power",

}

TY - JOUR

T1 - Herausforderung EMV in der Leistungselektronik

AU - Fuchs, Michael

AU - Auinger, Bernhard

AU - Pichler, Lukas

AU - Herdin, Markus

AU - Deutschmann, Bernd

PY - 2018/5

Y1 - 2018/5

N2 - Der Trend zu immer schneller schaltender Leistungselektronik führt dazu, dass EMV zu einem entscheidenden Thema wird. Mit Hilfe moderner Messtechnik lässt sich die Gate-Ansteuerung entwicklungsbegleitend optimieren und dadurch die Störabstrahlung verringern.

AB - Der Trend zu immer schneller schaltender Leistungselektronik führt dazu, dass EMV zu einem entscheidenden Thema wird. Mit Hilfe moderner Messtechnik lässt sich die Gate-Ansteuerung entwicklungsbegleitend optimieren und dadurch die Störabstrahlung verringern.

M3 - Artikel

SN - 0013-5658

SP - 12

EP - 17

JO - Elektronik

JF - Elektronik

IS - Sonderh. Power

ER -