@inproceedings{970faf0597ac49df844269e1ebc2e424,
title = "ESD Robustheit und Wunsch-Bell Charakteristik",
abstract = "Elektrostatische Entladungen – Englisch: Electrostatic Discharges (ESD) – werden mit fortschreitenden Integration und kleineren Strukturgr{\"o}{\ss}en in integrierten Schaltungen (ICs) eine zunehmende Herausforderung. Hersteller von ICs und Systemen {\"u}berpr{\"u}fen die ESD Robustheit ihrer Produkte mittels standardisierter Qualifikationstests. Die Testpulse f{\"u}r ICs unterscheiden sich von jenen, die auf Systemebene verwendet werden. Die Anforderungen und Ziele der Qualifikationstests f{\"u}r IC- und System-Ebene sind verschieden. Die standardisierten ESD-Tests geben nur eine Pass-Fail Information. Diese ist f{\"u}r die Entwicklungsphase von neuen ICs kaum geeignet. Die ESD-Festigkeit von ICs kann meist erst mit den ersten Prototypen festgestellt werden. Ein negatives Resultat bei einem ESD-Test hat meist ein Redesign und hohe Kosten zur Folge.",
keywords = "ESD, Wunsch Bell Charakterisitk, EMV, transient disturbance",
author = "Patrick Schrey and Bernd Deutschmann and Gunter Winkler",
year = "2017",
month = apr,
day = "26",
language = "deutsch",
isbn = "3-85133-093-5",
volume = "87",
pages = "21",
editor = "Gunter Winkler",
booktitle = "15. EMV-Fachtagung",
publisher = "{\"O}sterreichischer Verband f{\"u}r Elektrotechnik",
}