Testing of Chip-Level Electromagnetic Compatibility Under Ionizing Radiation Stress

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

Originalspracheenglisch
Titel19. EMV-Fachtagung 2022
PublikationsstatusVeröffentlicht - 22 Sept. 2022
  • 1 Konferenz oder Fachtagung (Teilnahme an/Organisation von)

  • 19. EMV-Fachtagung 2022

    Zupan, D. (Organisator/-in), Winkler, G. (Organisator/-in), Deutschmann, B. (Organisator/-in), Odreitz, K. (Organisator/-in), Kircher, D. (Teilnehmer/-in), Czepl, N. (Teilnehmer/-in), Koffler, S. (Teilnehmer/-in) & Haubenwallner, C. (Teilnehmer/-in)

    20 Sept. 2022 → 22 Sept. 2022

    Aktivität: Teilnahme an / Organisation von › Konferenz oder Fachtagung (Teilnahme an/Organisation von)

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