Low TID effects on MOS transistors

Publikation: KonferenzbeitragPosterBegutachtung

Originalspracheenglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - Sept. 2018
Veranstaltung18th Conference on Radiation Effects on Components and Systems : RADECS 2018 - Gothenburg, Schweden
Dauer: 16 Sept. 201821 Sept. 2018
http://www.radecs2018.org/

Konferenz

Konferenz18th Conference on Radiation Effects on Components and Systems
KurztitelRADECS 2018
Land/GebietSchweden
OrtGothenburg
Zeitraum16/09/1821/09/18
Internetadresse

ASJC Scopus subject areas

  • Elektrotechnik und Elektronik
  • Strahlung

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)
  • Experimental
  • Low TID effects on MOS transistors

    Bezhenova, V., Michalowska-Forsyth, A. M. & Pflanzl, W., 2021, 2018 18th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS). Gothenburg, 4 S.

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandBegutachtung

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