Ionizing radiation and radiation hardness in analog integrated circuits - recent X-ray testing

Varvara Bezhenova
, Alicja Malgorzata Michalowska-Forsyth

Institut für Elektronik (4390)

Publikation: Konferenzbeitrag › Abstract

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Abgeschlossen
FWF - Robust IC - Untersuchung der Störfestigkeit von analogen integrierten Schaltungen
Michalowska-Forsyth, A. M. (Projektleiter an der OE)
4/05/15 → 3/11/19
Projekt: Forschungsprojekt