Ionizing radiation and radiation hardness in analog integrated circuits - recent X-ray testing

Varvara Bezhenova
, Alicja Malgorzata Michalowska-Forsyth

Institut für Elektronik (4390)

Publikation: Konferenzbeitrag › Abstract

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Ionizing radiation and radiation hardness in analog integrated circuits - recent X-ray testing
Bezhenova, V. (Redner/in) & Michalowska-Forsyth, A. M. (Beitragende/r)
25 Apr. 2018
Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Invited talk bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science