Ionizing radiation and radiation hardness in analog integrated circuits - recent X-ray testing

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• Ionizing radiation and radiation hardness in analog integrated circuits - recent X-ray testing

  Bezhenova, V. (Redner/in) & Michalowska-Forsyth, A. M. (Beitragende/r)

  25 Apr. 2018

  Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Invited talk bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science

• RADHARD Symposium 2018

  Bezhenova, V. (Teilnehmer/-in) & Michalowska-Forsyth, A. M. (Teilnehmer/-in)

  24 Apr. 2018 → 25 Apr. 2018

  Aktivität: Teilnahme an / Organisation von › Konferenz oder Fachtagung (Teilnahme an/Organisation von)