Herausforderung EMV in der Leistungselektronik

Michael Fuchs; Bernhard Auinger; Lukas Pichler; Markus Herdin; Bernd Deutschmann

Herausforderung EMV in der Leistungselektronik

Michael Fuchs
, Bernhard Auinger
, Lukas Pichler
, Markus Herdin
, Bernd Deutschmann

Institut für Elektronik (4390)

Publikation: Beitrag in einer Fachzeitschrift › Artikel

Abstract

Der Trend zu immer schneller schaltender Leistungselektronik führt dazu, dass EMV zu einem entscheidenden Thema wird. Mit Hilfe moderner Messtechnik lässt sich die Gate-Ansteuerung entwicklungsbegleitend optimieren und dadurch die Störabstrahlung verringern.

Originalsprache	deutsch
Seiten (von - bis)	12-17
Fachzeitschrift	Elektronik
Ausgabenummer	Sonderh. Power
Publikationsstatus	Veröffentlicht - Mai 2018

Fields of Expertise

Information, Communication & Computing

Zugriff auf Dokument

https://www.elektroniknet.de/elektronik/messen-testen/herausforderung-emv-in-der-leistungselektronik-153599.html

Dieses zitieren

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TY - JOUR

T1 - Herausforderung EMV in der Leistungselektronik

AU - Fuchs, Michael

AU - Auinger, Bernhard

AU - Pichler, Lukas

AU - Herdin, Markus

AU - Deutschmann, Bernd

PY - 2018/5

Y1 - 2018/5

N2 - Der Trend zu immer schneller schaltender Leistungselektronik führt dazu, dass EMV zu einem entscheidenden Thema wird. Mit Hilfe moderner Messtechnik lässt sich die Gate-Ansteuerung entwicklungsbegleitend optimieren und dadurch die Störabstrahlung verringern.

AB - Der Trend zu immer schneller schaltender Leistungselektronik führt dazu, dass EMV zu einem entscheidenden Thema wird. Mit Hilfe moderner Messtechnik lässt sich die Gate-Ansteuerung entwicklungsbegleitend optimieren und dadurch die Störabstrahlung verringern.

M3 - Artikel

SN - 0013-5658

SP - 12

EP - 17

JO - Elektronik

JF - Elektronik

IS - Sonderh. Power

ER -