Flankensteilheitsdefinition kontra EMV Messung

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

Originalsprache	deutsch
Titel	Elektromagnetische Verträglichkeit
Erscheinungsort	Berlin [u.a.]
Herausgeber (Verlag)	VDE Verlag GmbH
Seiten	519-526
ISBN (Print)	978-3-8007-3206-7
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2010
Veranstaltung	Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit - Düsseldorf, Deutschland Dauer: 9 März 2010 → 11 März 2010

Konferenz	Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
Land/Gebiet	Deutschland
Ort	Düsseldorf
Zeitraum	9/03/10 → 11/03/10

Fields of Expertise

@inproceedings{75cb573b2e944591a03a22e454c64bb1,

title = "Flankensteilheitsdefinition kontra EMV Messung",

author = "Bernd Deutschmann and Frank Klotz",

year = "2010",

language = "deutsch",

isbn = "978-3-8007-3206-7",

pages = "519--526",

booktitle = "Elektromagnetische Vertr{\"a}glichkeit",

publisher = "VDE Verlag GmbH",

address = "Deutschland",

note = "Internationale Fachmesse und Kongress f{\"u}r Elektromagnetische Vertr{\"a}glichkeit ; Conference date: 09-03-2010 Through 11-03-2010",

}

TY - GEN

T1 - Flankensteilheitsdefinition kontra EMV Messung

AU - Deutschmann, Bernd

AU - Klotz, Frank

PY - 2010

Y1 - 2010

UR - https://www.scopus.com/pages/publications/84882381154

M3 - Beitrag in einem Konferenzband

SN - 978-3-8007-3206-7

SP - 519

EP - 526

BT - Elektromagnetische Verträglichkeit

PB - VDE Verlag GmbH

CY - Berlin [u.a.]

T2 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit

Y2 - 9 March 2010 through 11 March 2010

ER -