A Method to Measure the Electromagnetic Emission Induced by Electromagnetic Interference of Integrated Circuits

Daniel Kircher^*
, Nikolaus Czepl
, Dominik Zupan
, Bernd Deutschmann

^*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Institut für Elektronik (4390)

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

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A Method to Measure the Electromagnetic Emission Induced by Electromagnetic Interference of Integrated Circuits
Kircher, D. (Redner/in)
24 Mai 2023
Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science