A Method to Measure the Electromagnetic Emission Induced by Electromagnetic Interference of Integrated Circuits

Daniel Kircher^*
, Nikolaus Czepl
, Dominik Zupan
, Bernd Deutschmann

^*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Institut für Elektronik (4390)

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in einem Konferenzband › Begutachtung

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2023 Joint Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and International Conference on ElectroMagnetic Interference and Compatibility
Kircher, D. (Teilnehmer/-in), Czepl, N. (Teilnehmer/-in), Deutschmann, B. (Teilnehmer/-in) & Hansen, J. C. (Teilnehmer/-in)
22 Mai 2023 → 25 Mai 2023
Aktivität: Teilnahme an / Organisation von › Konferenz oder Fachtagung (Teilnahme an/Organisation von)